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4. Technologietag „Baugruppentest“
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24.01.2012, 17:07 Uhr, Industrie
Fachvorträge von Anbietern innovativer Prüftechnik sowie Anwendern verschiedener Prüfverfahren präsentieren den aktuellen Stand der Technik, Fall- und Applikationsbeispiele sowie Ausblicke auf Trends und Entwicklungen. Insgesamt erhalten Teilnehmer des Technologietags entscheidende Anhaltspunkte zur Auswahl des geeigneten Prüfverfahrens.
Referenten, Aussteller und Experten informieren auf dem Technologietag zu folgenden Themenbereichen:
• Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen
• Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI)
• JTAG/Boundary Scan
• Chip-embedded Instrumentation
• Funktionstest (FKT)
• Kombination verschiedener Testverfahren
In den Pausen, im Anschluss an die Vorträge und während der Podiumsdiskussion haben die Teilnehmer umfassende Möglichkeiten zum Ausfahrungsaustausch und zu Diskussionen mit Experten und Fachkollegen. Zusätzlich bietet eine begleitende Ausstellung weitere Einblicke in Produkte und Technologien.
Genauere Informationen und ein Anmeldeformular stehen unter ni.com/german/technologietag zur Verfügung.
Über National Instruments
Seit 1976 stellt National Instruments (www.ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie produktiver, innovativer und kreativer arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. Das langfristige Ziel des Unternehmens, die Zukunft der Gesellschaft mit seinen Technologien zu verbessern, unterstützt den Erfolg von Kunden, Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
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Deutschland:
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info.germany@ni.com, ni.com/germany
Österreich:
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Plainbachstraße 12, 5101 Salzburg-Bergheim
Tel.: +43 662 457990-0, Fax: +43 662 457990-19
ni.austria@ni.com, ni.com/austria
Schweiz:
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Zweigniederlassung Ennetbaden
Sonnenbergstrasse 53, 5408 Ennetbaden
Tel.: +41 56 2005151, Fax: +41 56 2005155
ni.switzerland@ni.com, ni.com/switzerland
Autor / Kontakt:
National Instruments Germany GmbH
Frau Silke Loos
München
Fon: +49 89 7413130
Fax: +49 89 7146035
URL: http://www.ni.com/germany
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